EM TIC 3X - Equipo de pulido iónico de superficies
Sistema de pulido de superficies en áreas de interés concretas
Descripción
El sistema Leica EM TXP es un dispositivo de preparación de blancos para fresar, cortar, desbastar y pulir muestras antes de realizar un examen mediante técnicas de SEM, TEM y LM. El microscopio estereoscópico integrado permite localizar y preparar de forma sencilla áreas de interés apenas visibles.
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