EM TIC 3X - Equipo de pulido iónico de superficies

Sistema de pulido de superficies en áreas de interés concretas

Descripción

El sistema Leica EM TXP es un dispositivo de preparación de blancos para fresar, cortar, desbastar y pulir muestras antes de realizar un examen mediante técnicas de SEM, TEM y LM. El microscopio estereoscópico integrado permite localizar y preparar de forma sencilla áreas de interés apenas visibles.