Descripción

La velocidad importa en la inspección, el control de procesos o el análisis de defectos y fallos en la industria de la microelectrónica y los semiconductores. Cuanto más rápido detecte un defecto, más rápido podrá reaccionar. Con un gran campo visual, el sistema de inspección DM3 XL permite a su equipo identificar defectos más rápidamente y aumentar su tasa de rendimiento. Haga uso del campo visual aumentado un 30 % del exclusivo objetivo macro. El DM3 XL utiliza iluminación LED para todos los métodos de contraste. La iluminación LED proporciona una temperatura de color constante y ofrece imágenes a color reales en todos los niveles de intensidad. - Aumente su rendimiento - Detecte de manera fiable el revelado insuficiente en el borde o en el centro de la oblea - Detecte los espesores radiales de capa irregulares - Captura y procesamiento de imágenes a color realistas en todos los niveles de intensidad - Resultados reproducibles

Control y ajuste de motores: equipos electrónicos

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