Descripción

El sistema Leica EM TXP es un dispositivo de preparación de blancos para fresar, cortar, desbastar y pulir muestras antes de realizar un examen mediante técnicas de SEM, TEM y LM. El microscopio estereoscópico integrado permite localizar y preparar de forma sencilla áreas de interés apenas visibles.

Máquinas para el acabado de superficies

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